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跌落試驗
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電子產(chǎn)品跌落試驗標(biāo)準(zhǔn)及方法
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跌落試驗通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定)。
80%的電子產(chǎn)品損壞大都來源于跌落碰撞，研發(fā)人員往往耗費大量的時間和成本，針對產(chǎn)品做相關(guān)的質(zhì)量試驗，最常見的就是跌落試驗。
一、跌落試驗方法：
1、自由跌落
目的：確定產(chǎn)品在搬運期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的最低牢固等級。本試驗主要用于非包裝的試驗樣品，以及在運輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗樣品。
2、重復(fù)自由跌落
目的：確定可能頻繁跌落到硬表面的接有電纜的元件型裝置，例如連接器和小型遙控裝置，經(jīng)受重復(fù)跌落的適應(yīng)性。
二、跌落試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4857.1
GB/T 4857.2
GB/T 4857.5
GB/T 4857.17
GB/T 4857.18
針對跌落實驗國家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。分2250px、1900px、1625px幾個等級。
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