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電子產(chǎn)品跌落測(cè)試方法有哪些?

電子產(chǎn)品跌落測(cè)試方法有哪些?

80%的電子產(chǎn)品損壞大都來源于跌落碰撞,研發(fā)人員往往耗費(fèi)大量的時(shí)間和成本,針對(duì)產(chǎn)品做相關(guān)的質(zhì)量試驗(yàn),最常見的結(jié)構(gòu)試驗(yàn)就是跌落與沖擊試驗(yàn)。...

2018-09-13

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